Universal scaling of surface plasmon modes

Franz Schmidt, Harald Ditlbacher, Andreas Hohenau, Ulrich Hohenester, Ferdinand Hofer, Joachim R. Krenn

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelAbstractbook M&M 2014
Herausgeber (Verlag).
Seitenxx-xx
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
VeranstaltungMicroscopy and Microanalysis 2014 - Hartford, USA
Dauer: 3 Aug 20147 Aug 2014

Konferenz

KonferenzMicroscopy and Microanalysis 2014
OrtHartford, USA
Zeitraum3/08/147/08/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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