Universal pressure scanning electron microscopy (UPSEM) –electron microscopy from high vacuum to atmospheric pressure

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelMC2017
SeitenIM1.012
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
VeranstaltungMicroscopy Conference 2017: MC17 - Lausanne, Schweiz
Dauer: 21 Aug 201725 Aug 2017
http://www.mc2017.ch/

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2017
KurztitelMC 2017
LandSchweiz
OrtLausanne
Zeitraum21/08/1725/08/17
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren