Understanding surface enhanced Raman spectroscopy using accurate simulations of electric nearfields

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelASEM
Seiten45
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
Veranstaltung7th ASEM-Workshop Advanced Electron Microscopy - TU Wien, Wien, Österreich
Dauer: 20 Apr 201721 Apr 2017

Konferenz

Konferenz7th ASEM-Workshop Advanced Electron Microscopy
LandÖsterreich
OrtWien
Zeitraum20/04/1721/04/17

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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