UIE/IEC Flickert Standard for Use in North America Measuring Techniques and Partical Applications

Manfred Sakulin, T. Key

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 20 Apr 1997
VeranstaltungPQA ´97 - North America, Columbus
Dauer: 20 Apr 1997 → …

Konferenz

KonferenzPQA ´97
OrtNorth America, Columbus
Zeitraum20/04/97 → …

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