The quest for quantitative figures on atomic resolution inelastic STEM images

Gerald Kothleitner, N.R. Lugg, M.J. Neish, S.D. Findlay, Werner Grogger, Ferdinand Hofer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelMicroscopy Conference
Herausgeber (Verlag).
Seiten528-528
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungMicroscopy Conference 2015: MC15 - Göttingen, Deutschland
Dauer: 6 Sept. 201511 Sept. 2015

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2015
KurztitelMC
Land/GebietDeutschland
OrtGöttingen
Zeitraum6/09/1511/09/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

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