The evaluation method for ESD immunity of components in terms of soft error

Jaedeok Lim*, Jongsung Lee, Byongsu Seol, Argha Nandy, David Pommerenke

*Korrespondierende/r Autor/in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

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Ingenieurwesen & Materialwissenschaft