Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film transistors

Thomas Obermüller, Marco Marchl, Simon Josef Außerlechner, Andrej Golubkov, Anja Haase, Barbara Stadlober, Lucas Hauser, Gregor Trimmel, Matthias Edler, Thomas Grießer, Wolfgang Kern, Egbert Zojer

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungInternational Conference on Organic Electronics 2009 - University of Liverpool, Liverpool, UK
Dauer: 15 Juni 200917 Juni 2009

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Organic Electronics 2009
OrtUniversity of Liverpool, Liverpool, UK
Zeitraum15/06/0917/06/09

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Experimental

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