TEM Characterization of Optoelectronic Devices Based on Conjugated Polymers: Can FIB Specimen Preparation Help?

Elena Tchernychova, Werner Grogger, Meltem Sezen, Peter Pölt, Evelin Fisslthaler, Emil List, Ferdinand Hofer

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 3 Sep. 2006
VeranstaltungThe 16th International Microscopy Congress - Sapporo, Japan
Dauer: 3 Sep. 20068 Sep. 2006

Konferenz

KonferenzThe 16th International Microscopy Congress
Land/GebietJapan
OrtSapporo
Zeitraum3/09/068/09/06

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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