TEM analysis of deformation induced dynamic nanocrystallization in an amorphous CoTi alloy

Stefan Noisternig, Christian Ebner, Christoph Gammer, Christian Rentenberger, Christian Gspan, Hans-Peter Karnthaler

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelEuropean Microscopy Congress 2016: Proceedings
Herausgeber (Verlag)European Microscopy Society
Seiten67-68
ISBN (elektronisch)978-3-527-80846-5
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
Veranstaltung16th European Microscopy Conference: EMC 2016 - Lyon Convention Center, Lyon, Frankreich
Dauer: 28 Aug 20162 Sep 2016
Konferenznummer: 16
http://www.emc2016.fr/en/

Konferenz

Konferenz16th European Microscopy Conference
KurztitelEMC 2016
LandFrankreich
OrtLyon
Zeitraum28/08/162/09/16
Internetadresse

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  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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