System-level design for ESD protection on multiple IO interfaces

Pengyu Wei, Javad Meiguni, David Pommerenke

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Abstract

This paper introduces the application of system-efficient ESD design (SEED) to ESD-induced pulses that are typical for system-level ESD. Emphasis is given to USB connectors because it has been shown that discharges to the connector shell will not lead to damaging current levels; however, the current levels are sufficient to cause soft-failures and possibly lead to latch-up of the USB IC.

Originalspracheenglisch
Titel2018 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten2C.11-2C.18
ISBN (elektronisch)9781538654798
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 25 Mai 2018
Extern publiziertJa
Veranstaltung2018 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018 - Burlingame, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 11 Mär 201815 Mär 2018

Publikationsreihe

NameIEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
Band2018-March
ISSN (Print)1541-7026

Konferenz

Konferenz2018 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtBurlingame
Zeitraum11/03/1815/03/18

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