Susceptibility scanning as a failure analysis tool for system-level electrostatic discharge (ESD) problems

Giorgi Muchaidze*, Jayong Koo, Qing Cai, Tun Li, Lijun Han, Andrew Martwick, Kai Wang, Jin Min, James L. Drewniak, David Pommerenke

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Abstract

Susceptibility scanning is an increasingly adopted method for root cause analysis of system-level immunity sensitivities. It allows localizing affected nets and integrated circuits (ICs). Further, it can be used to compare the immunity of functionally identical or similar ICs or circuit boards. This paper explains the methodology as applied to electrostatic discharge and provides examples of scan maps and signals probed during immunity scanning. Limitations of present immunity analysis methods are discussed.

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)268-276
Seitenumfang9
FachzeitschriftIEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
Jahrgang50
Ausgabenummer2
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Mai 2008
Extern publiziertJa

ASJC Scopus subject areas

  • Atom- und Molekularphysik sowie Optik
  • Physik der kondensierten Materie
  • Elektrotechnik und Elektronik

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