Susceptibility Scanning applied as IC Qualification Tool for Avoiding System Level Immunity Problems

Giorgi Muchaidze, Jayong Koo, T. Li, Q. Cai, J. Min, Lijun Han, David Johannes Pommerenke

Publikation: KonferenzbeitragPaper

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
Extern publiziertJa
VeranstaltungICONIC'2007: 3rd International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging - St. Louis, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 27 Jun 200729 Jun 2007

Konferenz

KonferenzICONIC'2007
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtSt. Louis
Zeitraum27/06/0729/06/07

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