Sub-micrometer synchrotron tomography of multiphase metals using Kirkpatrick-Baez optics

Guillermo Requena, Peter Cloetens, W. Altendorfer, Maria Cecilia Poletti, Domonkos Tolnai, Fernando Warchomicka, Hans Peter Degischer

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)760-763
FachzeitschriftScripta Materialia
Jahrgang61
Ausgabenummer7
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

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