Structural and morphological characterization of an organic multilayer photodiode with X-ray scattering techniques, electron microscopy and AFM

Alfred Neuhold, Stefanie Fladischer, Stefan Mitsche, Armin Moser, Heinz-Georg Flesch, Jiri Novak, Elke Kraker, Anja Haase, Detlef M. Smilgies, Werner Grogger, Roland Resel

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalsprachedeutsch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungISOTEC Meeting 2010 - Reinischkogel
Dauer: 25 Nov 201026 Nov 2010

Konferenz

KonferenzISOTEC Meeting 2010
OrtReinischkogel
Zeitraum25/11/1026/11/10

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