STEM study of NiSi2/Si interface at inclusion boundaries

Gyorgy Zoltan Radnóczi, Daniel Knez, Ferdinand Hofer, N. Frangis, N. Vouroutzis, J. Stoemenos, B. Pécz

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Originalspracheenglisch
TitelMCM2017 conference
Seitenumfang1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 24 Sep 2017
Veranstaltung13th Multinational Congress on Microscopy - Rovinj, Kroatien
Dauer: 24 Sep 201729 Sep 2017

Konferenz

Konferenz13th Multinational Congress on Microscopy
KurztitelMCM 2017
LandKroatien
OrtRovinj
Zeitraum24/09/1729/09/17

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Radnóczi, G. Z., Knez, D., Hofer, F., Frangis, N., Vouroutzis, N., Stoemenos, J., & Pécz, B. (2017). STEM study of NiSi2/Si interface at inclusion boundaries. in MCM2017 conference