STEM and EFTEM-Analysis of Nanomaterials at High Spatial and Energy Resolution

Werner Grogger, Bernhard Schaffer, Michael Rogers, Gerald Kothleitner, Ferdinand Hofer

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 31 Juli 2005
VeranstaltungMicroscopy & Microanalysis 2005
- Honolulu, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 31 Juli 20054 Aug. 2005

Konferenz

KonferenzMicroscopy & Microanalysis 2005
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtHonolulu
Zeitraum31/07/054/08/05

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

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