STEM and EFTEM-Analysis of Nanomaterials at High Spatial and Energy Resolution

Werner Grogger, Bernhard Schaffer, Michael Rogers, Gerald Kothleitner, Ferdinand Hofer

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 31 Jul 2005
VeranstaltungMicroscopy & Microanalysis 2005 - Honolulu, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 31 Jul 20054 Aug 2005

Konferenz

KonferenzMicroscopy & Microanalysis 2005
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtHonolulu
Zeitraum31/07/054/08/05

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Dieses zitieren

Grogger, W., Schaffer, B., Rogers, M., Kothleitner, G., & Hofer, F. (2005). STEM and EFTEM-Analysis of Nanomaterials at High Spatial and Energy Resolution. Microscopy & Microanalysis 2005, Honolulu, USA / Vereinigte Staaten.