Standards for Analysis of Submicron Particles by SEM/EDXS

Mario Schmied, Peter Pölt

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2000
VeranstaltungEuropean Congress on Electron Microscopy - Brno, Tschechische Republik
Dauer: 9 Juli 2000 → 14 Juli 2000

Konferenz

KonferenzEuropean Congress on Electron Microscopy
Land/GebietTschechische Republik
OrtBrno
Zeitraum9/07/00 → 14/07/00

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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