Sputtering thin films for high resolution scanning electron microscopy

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
Veranstaltung18th IMC 2014 Prag - Prag, Tschechische Republik
Dauer: 7 Sep 201412 Sep 2014

Konferenz

Konferenz18th IMC 2014 Prag
LandTschechische Republik
OrtPrag
Zeitraum7/09/1412/09/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Rattenberger, J., Melischnig, A., Schröttner, H., Letofsky-Papst, I., Mertschnigg, S., & Hofer, F. (2014). Sputtering thin films for high resolution scanning electron microscopy. Postersitzung präsentiert bei 18th IMC 2014 Prag, Prag, Tschechische Republik.