Sources of analyte contamination and loss during the analytical process

Günter Knapp, Peter Schramel

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/Bericht

Originalspracheenglisch
TitelSample preparation for trace element analysis
ErscheinungsortAmsterdam
Herausgeber (Verlag)Elsevier B.V.
Seiten23-45
Band41
Auflage1
ISBN (Print)0-444-51101-6
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003

Publikationsreihe

NameWilson & Wilson's comprehensive analytical chemistry
Herausgeber (Verlag)Elsevier Science B.V.

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