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Abstract
Electrostatic Discharge immunity is a design challenge for electronic components and systems alike. Unfortunately, component-level Electrostatic Discharge data seldom provides useful information for system design. In order to pick a suitable component to meet the system's Electrostatic Discharge requirements, a more sophisticated characterisation of components with respect to Electrostatic Discharge has to be found. In particular, soft-failures in component-level Electrostatic Discharge testing are required. This paper presents a new soft-failure Electrostatic Discharge characterisation to help system designers.
Originalsprache | englisch |
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Titel | 2019 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo) |
Herausgeber (Verlag) | IEEE Xplore |
Seitenumfang | 3 |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 21 Okt. 2019 |
Veranstaltung | The 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits - Zhejiang University, Haining, China Dauer: 21 Okt. 2019 → 23 Okt. 2019 http://www.emcconf.org/ |
Konferenz
Konferenz | The 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits |
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Kurztitel | EMC Compo |
Land/Gebiet | China |
Ort | Haining |
Zeitraum | 21/10/19 → 23/10/19 |
Internetadresse |
Fingerprint
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