Simultaneous extraction of charge density dependent mobility and variable contact resistance from thin film transistors

Riccardo Di Pietro, Deepak Venkateshvaran, Andreas Klug, Emil List-Kratochvil, Antonio Facchetti, Henning Sirringhaus, Dieter Neher

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)193501-1-193501-6
FachzeitschriftApplied Physics Letters
Jahrgang104
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Di Pietro, R., Venkateshvaran, D., Klug, A., List-Kratochvil, E., Facchetti, A., Sirringhaus, H., & Neher, D. (2014). Simultaneous extraction of charge density dependent mobility and variable contact resistance from thin film transistors. Applied Physics Letters, 104, 193501-1-193501-6. https://doi.org/10.1063/1.4876057