Serial block face scanning electron microscopy for three dimensional structural and elemental analysis of materials

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 4 Sep 2011
VeranstaltungMCM 2011 - Urbino, Italien
Dauer: 4 Sep 20119 Sep 2011

Konferenz

KonferenzMCM 2011
LandItalien
OrtUrbino
Zeitraum4/09/119/09/11

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren