Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik

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Abstract

Plötzlich wechselnde Lasten oder elektrostatische Entladungen können zu einem kurzzeitigen Anstieg von Strom und Spannung in elektronischen Komponenten und Systemen führen. Diese Störungen bestehen wenige Nanosekunden bis hin zu einigen Millisekunden.
Bei unzureichender Dimensionierung der Elektronik reichen durch solche transiente Störungen verursachten Fehler von kurzzeitigen Funktionsbeeinträchtigungen oder Ausfällen oder bis hin zur Zerstörung.
Die Untersuchung von elektronischen Komponenten und Systemen hinsichtlich ihrer Robustheit gegenüber transienter Störgrößen gestaltet sich insofern schwierig, als die standardisierten Charakterisierungen durch Gleichstromgrößen nicht ausreichen. DC-Messungen im entsprechenden Hochstrombereich würden zu einer unzulässiger Erwärmung oder Beschädigung des Testobjektes führen.
Um das transiente Hochstromverhalten des Testobjekts untersuchen zu können sind kurze rechteckförmige Pulse notwendig. Diese führen dem Testobjekt nur eine geringe Energie zu und verringern so die thermische Belastung.
Originalsprachedeutsch
Titel15. EMV-Fachtagung
UntertitelOVE Schriftenreihe Nr. 87
Redakteure/-innenGunter Winkler
ErscheinungsortWien
Herausgeber (Verlag)Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Seiten47
Band87
ISBN (Print)3-85133-093-5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 26 Apr 2017

Schlagwörter

  • Leistungselektronik, Transmission Line Pulsing, Hochstromverhalten, transientes Verhalten

ASJC Scopus subject areas

  • !!Engineering(all)

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

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