Robust Spot Fitting for Genetic Spot Array Images

H-Y. Chen, Norbert Brändle, Horst Bischof, H. Lapp

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelProceedings / 2000 International Conference on Image Processing ; Vol. 3
ErscheinungsortPiscataway, NJ
Herausgeber (Verlag)IEEE Operations Center
Seiten412-415
ISBN (Print)0-7803-6297-7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2000
VeranstaltungInternational Conference on Image Processing - Vancouver, Kanada
Dauer: 10 Sep 200013 Sep 2000

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Image Processing
LandKanada
OrtVancouver
Zeitraum10/09/0013/09/00

Dieses zitieren

Chen, H-Y., Brändle, N., Bischof, H., & Lapp, H. (2000). Robust Spot Fitting for Genetic Spot Array Images. in Proceedings / 2000 International Conference on Image Processing ; Vol. 3 (S. 412-415). Piscataway, NJ: IEEE Operations Center.