Robust Local Features and their Application in Self-Calibration and Object Recognition on Embedded Systems

Clemens Arth, Christian Leistner, Horst Bischof

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelProceedings of Workshop on Embedded Computer Vision
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten01-02
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
Veranstaltung2006 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition: CVPR 2006 - New York, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 17 Jun 200622 Jun 2006

Konferenz

Konferenz2006 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtNew York
Zeitraum17/06/0622/06/06

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application

Dieses zitieren