Robust Local Features and their Application in Self-Calibration and Object Recognition on Embedded Systems

Clemens Arth, Christian Leistner, Horst Bischof

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelProceedings of Workshop on Embedded Computer Vision
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten01-02
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
VeranstaltungConference on Computer Vision and Pattern Recognition - New York, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 16 Jun 200622 Jun 2006

Konferenz

KonferenzConference on Computer Vision and Pattern Recognition
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtNew York
Zeitraum16/06/0622/06/06

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application

Projekte

  • 2 Abschlussdatum

VM-GPU - Variational Methods on the GPU for Industrial Problems

Grabner, M., Pock, T., Unger, M., Santner, J. & Bischof, H.

1/06/0728/02/10

Projekt: Foschungsprojekt

Evis - Autonomous Traffic Monitoring by Embedded Vision

Sternig, S., Godec-Schönbacher, M., Leistner, C., Bischof, H. & Kontschieder, P.

1/05/0730/06/10

Projekt: Foschungsprojekt

Dieses zitieren

Arth, C., Leistner, C., & Bischof, H. (2007). Robust Local Features and their Application in Self-Calibration and Object Recognition on Embedded Systems. in Proceedings of Workshop on Embedded Computer Vision (S. 01-02). Institute of Electrical and Electronics Engineers.