Robust high precision 2d optical range sensor

Markus Brandner, Thomas Thurner

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

    Originalspracheenglisch
    TitelOptical measurement systems for industrial inspection IV
    Redakteure/-innenWolfgang Osten
    ErscheinungsortBellingham, Wash.
    Herausgeber (Verlag)SPIE
    Seiten327-335
    Band5856
    ISBN (Print)0-8194-5856-2
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005
    VeranstaltungSPIE International Symposium Optical Metrology - München, Deutschland
    Dauer: 13 Juni 200517 Juni 2005

    Publikationsreihe

    NameProceedings of SPIE
    Herausgeber (Verlag)SPIE

    Konferenz

    KonferenzSPIE International Symposium Optical Metrology
    Land/GebietDeutschland
    OrtMünchen
    Zeitraum13/06/0517/06/05

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