Residue-free room temperature UV-nanoimprinting of submicron organic thin film transistors

C. Auner; U. Palfinger; H. Gold; A. Haase; Johanna Kraxner; Thomas Haber; Meltem Sezen; Werner Grogger; G. Jakopic; J.R. Krenn; Günther Leising; B. Stadlober

doi:10.1016/j.orgel.2009.08.010

Residue-free room temperature UV-nanoimprinting of submicron organic thin film transistors

C. Auner, U. Palfinger, H. Gold, A. Haase, Johanna Kraxner, Thomas Haber, Meltem Sezen, Werner Grogger, G. Jakopic, J.R. Krenn, Günther Leising, B. Stadlober

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Seiten (von - bis)	1466-1472
Fachzeitschrift	Organic Electronics
Jahrgang	10
DOIs	https://doi.org/10.1016/j.orgel.2009.08.010
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009

Fields of Expertise

Advanced Materials Science

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Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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10.1016/j.orgel.2009.08.010

Crystal structure analysis using electron microscopy
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TY - JOUR

T1 - Residue-free room temperature UV-nanoimprinting of submicron organic thin film transistors

AU - Auner, C.

AU - Palfinger, U.

AU - Gold, H.

AU - Haase, A.

AU - Kraxner, Johanna

AU - Haber, Thomas

AU - Sezen, Meltem

AU - Grogger, Werner

AU - Jakopic, G.

AU - Krenn, J.R.

AU - Leising, Günther

AU - Stadlober, B.

PY - 2009

Y1 - 2009

U2 - 10.1016/j.orgel.2009.08.010

DO - 10.1016/j.orgel.2009.08.010

M3 - Article

SN - 1878-5530

VL - 10

SP - 1466

EP - 1472

JO - Organic Electronics

JF - Organic Electronics

ER -

Residue-free room temperature UV-nanoimprinting of submicron organic thin film transistors

Fields of Expertise

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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Crystal structure analysis using electron microscopy

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