Removing the effects of elastic and thermal scattering from spectrum images in scanning transmission electron microscopy

N.R. Lugg, M.J. Neish, M. Haruta, Gerald Kothleitner, Werner Grogger, Ferdinand Hofer, K. Kimoto, T. Mizoguchi, S.D. Findlay, L.J. Allen

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelMicroscopy for Global Challenges
Herausgeber (Verlag).
SeitenIT-16-P-2955
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
VeranstaltungInternational Microscopy Congress 2014 - Prag Tschechische Republik
Dauer: 7 Sep 201412 Sep 2014

Konferenz

KonferenzInternational Microscopy Congress 2014
OrtPrag Tschechische Republik
Zeitraum7/09/1412/09/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Lugg, N. R., Neish, M. J., Haruta, M., Kothleitner, G., Grogger, W., Hofer, F., ... Allen, L. J. (2014). Removing the effects of elastic and thermal scattering from spectrum images in scanning transmission electron microscopy. in Microscopy for Global Challenges (S. IT-16-P-2955). ..