RELIABLE QUANTIFICATION OF X-RAY SPECTRA USING ζ-FACTORS: FROM STANDARDS TO GEOMETRY

Johanna Kraxner, Lukas Konrad, Daniel Knez, Angelina Orthacker, Sebastian Rauch, Manuel Paller, Gerald Kothleitner, Werner Grogger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelMultinational Congress on Microscopy
Herausgeber (Verlag).
SeitenO-239-80-82
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungMultinational Congress on Microscopy - Eger, Ungarn
Dauer: 23 Aug. 201528 Aug. 2015

Konferenz

KonferenzMultinational Congress on Microscopy
Land/GebietUngarn
OrtEger
Zeitraum23/08/1528/08/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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