Rauhigkeit und Topografie – ein Vergleich unterschiedlicher Messverfahren

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Originalsprache	deutsch
Titel	17. PTS-CHT-Symposium Chemische Technologie der Papierherstellung
Herausgeber (Verlag)	.
Seiten	37/1-37/12
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2006
Veranstaltung	PTS-CHT-Symposium - München, Deutschland Dauer: 12 Sept. 2006 → 15 Sept. 2006

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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TY - GEN

T1 - Rauhigkeit und Topografie – ein Vergleich unterschiedlicher Messverfahren

AU - Lechthaler, Markus

AU - Bauer, Wolfgang

PY - 2006

Y1 - 2006

UR - http://www.cht-symposium.de/

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

SP - 37/1-37/12

BT - 17. PTS-CHT-Symposium Chemische Technologie der Papierherstellung

PB - .

T2 - PTS-CHT-Symposium

Y2 - 12 September 2006 through 15 September 2006

ER -