Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse

Peter Golob

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/BerichtForschung

Originalsprachedeutsch
TitelGuß- und Gefügefehler
ErscheinungsortBerlin
Herausgeber (Verlag)Schiele und Schön
Seiten13-19
Auflage1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1999

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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Golob, P. (1999). Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. in Guß- und Gefügefehler (1 Aufl., S. 13-19). Berlin: Schiele und Schön.

Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. / Golob, Peter.

Guß- und Gefügefehler. 1. Aufl. Berlin : Schiele und Schön, 1999. S. 13-19.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/BerichtForschung

Golob, P 1999, Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. in Guß- und Gefügefehler. 1 Aufl., Schiele und Schön, Berlin, S. 13-19.
Golob P. Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. in Guß- und Gefügefehler. 1 Aufl. Berlin: Schiele und Schön. 1999. S. 13-19
Golob, Peter. / Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. Guß- und Gefügefehler. 1. Aufl. Berlin : Schiele und Schön, 1999. S. 13-19
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TY - CHAP

T1 - Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse

AU - Golob, Peter

PY - 1999

Y1 - 1999

M3 - Beitrag in Buch/Bericht

SP - 13

EP - 19

BT - Guß- und Gefügefehler

PB - Schiele und Schön

CY - Berlin

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