Radiated Immunity Testing of Integrated Circuits in Reverberation Chambers

R. Heinrich, R. Bechly, Bernd Deutschmann

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility
ErscheinungsortPiscataway, NY
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten1-4
ISBN (Print)978-1-4673-0718-5
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012
VeranstaltungInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility - Rome, Italien
Dauer: 17 Dez 201221 Dez 2012

Konferenz

KonferenzInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility
LandItalien
OrtRome
Zeitraum17/12/1221/12/12

Fields of Expertise

  • Sonstiges

Dieses zitieren

Heinrich, R., Bechly, R., & Deutschmann, B. (2012). Radiated Immunity Testing of Integrated Circuits in Reverberation Chambers. in International Symposium on Electromagnetic Compatibility (S. 1-4). Piscataway, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers. https://doi.org/10.1109/EMCEurope.2012.6396877