Quantitative Elemental Mapping at Atomic Resolution Using X-Ray Spectroscopy

Gerald Kothleitner, M.J. Neish, N.R. Lugg, S.D. Findlay, Werner Grogger, Ferdinand Hofer, L.J. Allen

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)085501-1-085501-5
FachzeitschriftPhysical Review Letters
Jahrgang112
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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