Quantitative compositional mapping with EFTEM: Applications to advanced materials

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelAdvanced materials 2000
ErscheinungsortTsukuba
Herausgeber (Verlag)National Institute for Research in Inorganic Materials
Seiten21-22
ISBN (Print)4-944122-05-5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2000
VeranstaltungInternational Symposium on Advanced Materials - Hayama, Japan
Dauer: 29 Feb 20003 Mär 2000

Konferenz

KonferenzInternational Symposium on Advanced Materials
LandJapan
OrtHayama
Zeitraum29/02/003/03/00

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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