Quantitative Analysis of Internal Interfaces Structural and quantitative analysis via High resolution STEM

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Originalspracheenglisch
TitelASEM
Seiten55
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
Veranstaltung7. ASEM workshop of the Austrian Society of Electron Microscopy - Wien, Wien, Österreich
Dauer: 20 Apr 201721 Apr 2017

Konferenz

Konferenz7. ASEM workshop of the Austrian Society of Electron Microscopy
KurztitelASEM 2017
LandÖsterreich
OrtWien
Zeitraum20/04/1721/04/17

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dies zitieren

Quantitative Analysis of Internal Interfaces Structural and quantitative analysis via High resolution STEM. / Fisslthaler, Evelin; Gspan, Christian; Haberfehlner, Georg; Grogger, Werner.

ASEM. 2017. S. 55.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Fisslthaler, E, Gspan, C, Haberfehlner, G & Grogger, W 2017, Quantitative Analysis of Internal Interfaces Structural and quantitative analysis via High resolution STEM. in ASEM. S. 55, 7. ASEM workshop of the Austrian Society of Electron Microscopy, Wien, Österreich, 20/04/17.
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TY - GEN

T1 - Quantitative Analysis of Internal Interfaces Structural and quantitative analysis via High resolution STEM

AU - Fisslthaler, Evelin

AU - Gspan, Christian

AU - Haberfehlner, Georg

AU - Grogger, Werner

PY - 2017

Y1 - 2017

M3 - Conference contribution

SP - 55

BT - ASEM

ER -