Program time effects on Total ionizing Dose tolerance of Sidewall Spacer Memory Bit Cell

Tommaso Vincenzi, Gregor Schatzberger, Alicja Malgorzata Michalowska-Forsyth

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	2019 Austrochip Workshop on Microelectronics
Untertitel	Austrochip 2019
Erscheinungsort	Vienna
Herausgeber (Verlag)	CPS, IEEE Xplore
Seiten	55
Seitenumfang	58
ISBN (elektronisch)	978-1-7281-1953-3
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 24 Okt. 2019
Veranstaltung	27th Austrian Workshop on Microelectronics: Austrochip 2019 - FH Technikum Wien, Wien, Österreich Dauer: 24 Okt. 2019 → 24 Okt. 2019 Konferenznummer: 27 https://embsys.technikum-wien.at/austrochip2019/ https://embsys.technikum-wien.at/austrochip2019/program/index.htm

Workshop	27th Austrian Workshop on Microelectronics
Kurztitel	Austrochip 2019
Land/Gebiet	Österreich
Ort	Wien
Zeitraum	24/10/19 → 24/10/19
Internetadresse	https://embsys.technikum-wien.at/austrochip2019/ https://embsys.technikum-wien.at/austrochip2019/program/index.htm

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Program time effects on Total ionizing Dose tolerance of Sidewall Spacer Memory Bit Cell. / Vincenzi, Tommaso; Schatzberger, Gregor; Michalowska-Forsyth, Alicja Malgorzata.
2019 Austrochip Workshop on Microelectronics: Austrochip 2019. Vienna: CPS, IEEE Xplore, 2019. S. 55.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

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TY - GEN

T1 - Program time effects on Total ionizing Dose tolerance of Sidewall Spacer Memory Bit Cell

AU - Vincenzi, Tommaso

AU - Schatzberger, Gregor

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