Prediction of the robustness of integrated circuits against EFT/BURST

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
Titel2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten45-49
ISBN (Print)978-1-4799-6615-8
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility - Dresden, Deutschland
Dauer: 16 Aug 201522 Aug 2015

Konferenz

KonferenzInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility
LandDeutschland
OrtDresden
Zeitraum16/08/1522/08/15

Fields of Expertise

  • Sonstiges

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Bauer, S. M., Deutschmann, B., & Winkler, G. (2015). Prediction of the robustness of integrated circuits against EFT/BURST. in 2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC) (S. 45-49). Institute of Electrical and Electronics Engineers. https://doi.org/10.1109/ISEMC.2015.7256130