Predicting EMI induced delay errors in integrated circuits: Sensitivity to the velocity saturation index

Xu Gao, Chunchun Sui, Sameer Hemmady, Joey Rivera, Lisa Andivahis, David Pommerenke, Daryl Beetner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

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