Post-test analysis of silicon poisoning and phase decomposition in the SOFC cathode material La0.58Sr0.4Co0.2Fe0.8O3−δ by transmission electron microscopy

Edith Bucher, Christian Gspan, Ferdinand Hofer, Werner Sitte

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)7-11
FachzeitschriftSolid State Ionics
Jahrgang230
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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