Plasmon modes of a silver thin film taper probed with STEM-EELS

Franz-Philipp Schmidt, Harald Ditlbacher, Andreas Trügler, Ulrich Hohenester, Andreas Hohenau, Ferdinand Hofer, Joachim R. Krenn

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)5670-5673
FachzeitschriftOptics Letters
Jahrgang40
Ausgabenummer23
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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