Plasmon modes of a silver thin film taper probed with STEM-EELS

Franz-Philipp Schmidt, Harald Ditlbacher, Andreas Trügler, Ulrich Hohenester, Andreas Hohenau, Ferdinand Hofer, Joachim R. Krenn

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)5670-5673
FachzeitschriftOptics letters
Jahrgang40
Ausgabenummer23
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Schmidt, F-P., Ditlbacher, H., Trügler, A., Hohenester, U., Hohenau, A., Hofer, F., & Krenn, J. R. (2015). Plasmon modes of a silver thin film taper probed with STEM-EELS. Optics letters, 40(23), 5670-5673. https://doi.org/10.1364/OL.40.005670