Photogrammetrische Konzepte zur Auswertung von 2D und 3D Szenen

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Originalsprache	deutsch
Titel	Mustererkennung 1983
Erscheinungsort	Berlin
Herausgeber (Verlag)	VDE Verlag GmbH
Seiten	11-29
Band	35
ISBN (Print)	3-8007-1334-9
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 1983
Veranstaltung	DAGM Symposium Mustererkennung: DAGM 1983 - Karlsruhe, Deutschland Dauer: 11 Okt. 1983 → 13 Okt. 1983

Name	VDE-Fachberichte
Herausgeber (Verlag)	VDE-Verl.

Konferenz	DAGM Symposium Mustererkennung
Land/Gebiet	Deutschland
Ort	Karlsruhe
Zeitraum	11/10/83 → 13/10/83

Fields of Expertise

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author = "Franz Leberl",

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