Phase decomposition in the chromium- and silicon-poisoned IT-SOFC cathode materials La0.6Sr0.4CoO3-δ and La2NiO4+δ

Nina Schrödl, Edith Bucher, Christian Gspan, Andreas Egger, Christian Ganser, Christian Teichert , Ferdinand Hofer, Werner Sitte

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Fingerprint

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