Performance enhancement of a modular test system for power semiconductors for HTOL testing by use of an embedded system

Roland Sleik, Michael Glavanovics, Klaus Krischan, Annette Mütze

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelProc. 19th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'17 ECCE Europe)
ErscheinungsortWarsaw
Herausgeber (Verlag)IEEE Xplore
Seiten1-8
PublikationsstatusVeröffentlicht - 11 Sep. 2017

Publikationsreihe

NameEuropean Conference on Power Electronics and Applications

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