OPTIMIZING THE ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPE – GETTING HIGH IMAGE QUALITY ABOVE 1000 PA

Publikation: KonferenzbeitragAbstractForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
SeitenO-159-166-167
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungMultinational Congress on Microscopy - Eger, Ungarn
Dauer: 23 Aug 201528 Aug 2015

Konferenz

KonferenzMultinational Congress on Microscopy
LandUngarn
OrtEger
Zeitraum23/08/1528/08/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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