On Using Off-the-Shelf Micro Projectors for 3D Metrology

Martin Lenz, Matthias Rüther, Horst Bischof

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelVisual Learning
ErscheinungsortWien
Herausgeber (Verlag).
Seiten153-164
Band254
ISBN (Print)978-3-85403-254-0
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungWorkshop of the Austrian Association for Pattern Recognition - Stainz, Österreich
Dauer: 14 Mai 200915 Mai 2009

Publikationsreihe

Namebooks@ocg.at

Konferenz

KonferenzWorkshop of the Austrian Association for Pattern Recognition
LandÖsterreich
OrtStainz
Zeitraum14/05/0915/05/09

Dieses zitieren

Lenz, M., Rüther, M., & Bischof, H. (2009). On Using Off-the-Shelf Micro Projectors for 3D Metrology. in Visual Learning (Band 254, S. 153-164). (books@ocg.at). Wien: ..