Nonlinear material contrast in low voltage backscatter electron images

Johannes Rattenberger, Julian Wagner, Hartmuth Schröttner

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Konferenzbeitrag › (Altdaten) Vortrag oder Präsentation

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Abgeschlossen
Microanalysis and in-situ studies using scanning electron microscopy
1/01/01 → 14/05/20
Projekt: Arbeitsgebiet