Neues Burst-Messverfahren - Charakterisierung der Störfestigkeit von ICs gegen Bursts

Bernd Deutschmann, G. Langer, G. Auderer

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel

Originalsprachedeutsch
Seiten (von - bis)282-284
FachzeitschriftD&V-Kompendium
Jahrgang2004/05
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004

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