Nanoanalytical characterization of an organic photodiode by electron microscopy and atomic force microscopy

Stefanie Fladischer, A.G. Neuhold, Stefan Mitsche, E. Kraker, A. Haase, B. Lamprecht, R. Resel, Werner Grogger

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungInternational Conference of Organic Electronics 2010 - Paris, Frankreich
Dauer: 22 Jun 201025 Jun 2010

Konferenz

KonferenzInternational Conference of Organic Electronics 2010
OrtParis, Frankreich
Zeitraum22/06/1025/06/10

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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