MOSFET Aging Measurements and Hot-Electron Degradation Models

Publikation: StudienabschlussarbeitDiplomarbeitForschung

Originalspracheenglisch
Gradverleihende Hochschule
  • Technische Universität Graz (90000)
Betreuer/-in / Berater/-in
  • Hadley, Peter, Betreuer
Förderer
PublikationsstatusUnveröffentlicht - Okt 2016

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