Originalsprache | englisch |
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Titel | Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft |
Herausgeber (Verlag) | . |
Seiten | 152-153 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2006 |
Veranstaltung | Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Graz, Österreich Dauer: 18 Sep 2006 → 21 Sep 2006 |
Konferenz
Konferenz | Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft |
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Land | Österreich |
Ort | Graz |
Zeitraum | 18/09/06 → 21/09/06 |
Treatment code (Nähere Zuordnung)
- Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
Dies zitieren
Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2. / Shen, Quan; Hlawacek, Gregor; Teichert, Christian; Lex, Alexandra; Slugovc, Christian; Trimmel, Gregor; Pacher, Peter; Proschek, Veronika; Zojer, Egbert.
Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft. ., 2006. S. 152-153.Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Forschung › Begutachtung
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TY - GEN
T1 - Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2
AU - Shen, Quan
AU - Hlawacek, Gregor
AU - Teichert, Christian
AU - Lex, Alexandra
AU - Slugovc, Christian
AU - Trimmel, Gregor
AU - Pacher, Peter
AU - Proschek, Veronika
AU - Zojer, Egbert
PY - 2006
Y1 - 2006
M3 - Conference contribution
SP - 152
EP - 153
BT - Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
PB - .
ER -