Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2

Quan Shen, Gregor Hlawacek, Christian Teichert, Alexandra Lex, Christian Slugovc, Gregor Trimmel, Peter Pacher, Veronika Proschek, Egbert Zojer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelJahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
Herausgeber (Verlag).
Seiten152-153
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
VeranstaltungJahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Graz, Österreich
Dauer: 18 Sep 200621 Sep 2006

Konferenz

KonferenzJahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum18/09/0621/09/06

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dies zitieren

Shen, Q., Hlawacek, G., Teichert, C., Lex, A., Slugovc, C., Trimmel, G., ... Zojer, E. (2006). Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2. in Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft (S. 152-153). ..

Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2. / Shen, Quan; Hlawacek, Gregor; Teichert, Christian; Lex, Alexandra; Slugovc, Christian; Trimmel, Gregor; Pacher, Peter; Proschek, Veronika; Zojer, Egbert.

Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft. ., 2006. S. 152-153.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Shen, Q, Hlawacek, G, Teichert, C, Lex, A, Slugovc, C, Trimmel, G, Pacher, P, Proschek, V & Zojer, E 2006, Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2. in Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft. ., S. 152-153, Graz, Österreich, 18/09/06.
Shen Q, Hlawacek G, Teichert C, Lex A, Slugovc C, Trimmel G et al. Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2. in Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft. . 2006. S. 152-153
Shen, Quan ; Hlawacek, Gregor ; Teichert, Christian ; Lex, Alexandra ; Slugovc, Christian ; Trimmel, Gregor ; Pacher, Peter ; Proschek, Veronika ; Zojer, Egbert. / Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft. ., 2006. S. 152-153
@inproceedings{4efe720b35b14d35b199687ffbbce617,
title = "Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2",
author = "Quan Shen and Gregor Hlawacek and Christian Teichert and Alexandra Lex and Christian Slugovc and Gregor Trimmel and Peter Pacher and Veronika Proschek and Egbert Zojer",
year = "2006",
language = "English",
pages = "152--153",
booktitle = "Jahrestagung der {\"O}sterreichischen Physikalischen Gesellschaft",
publisher = ".",

}

TY - GEN

T1 - Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2

AU - Shen, Quan

AU - Hlawacek, Gregor

AU - Teichert, Christian

AU - Lex, Alexandra

AU - Slugovc, Christian

AU - Trimmel, Gregor

AU - Pacher, Peter

AU - Proschek, Veronika

AU - Zojer, Egbert

PY - 2006

Y1 - 2006

M3 - Conference contribution

SP - 152

EP - 153

BT - Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft

PB - .

ER -